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儀器名稱
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國立臺灣科技大學新購『低功率與高功率多功能X光繞儀 』2套
(Low Power and High Power Multi Function X-Ray Diffractometers)
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功能介紹
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X光繞儀是一種應用於材料分析的高科技無損檢測方法，可以採用這種方法進行分析研究的材料範圍非常廣泛，包括流體、金屬、礦物、聚合物、催化劑、塑膠、藥物、薄膜鍍層、陶瓷、太陽能電池和半導體等。X光繞儀的應用遍及工業和科研院所，現已成為一種不可缺少的材料研究表徵和品質控制手段。具體應用範圍包括定性和定量相分析、結晶學分析、結構解析、織構和殘餘應力分析、受控樣品環境、微區繞儀、奈米材料、實驗和過程的自動控制以及高處理量多形體篩選。
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廠商資訊
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公司名稱 Bruker
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學校連絡人資料
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聯絡窗口：吳盈瑩小姐，E-mail：ying22.Wu@mail.ntust.edu.tw
連絡電話：(02) 2733-3141#7413
傳真電話：(02) 2737-6544
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儀器相片
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